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利特斯 CCD全譜直讀光譜分析儀 SZ-WL15A
| 產(chǎn)品型號： |
SZ-WL15A |
| 品 牌： |
利特斯 |
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| 所 在 地： |
廣東深圳 |
| 更新日期： |
2025-05-05 |
| | 品牌：利特斯 | | 加工定制：是 | | 型號：SZ-WL15A | |
| | 光源：全頻數(shù)字雙脈沖激發(fā)光源 | | 波長范圍：130～1100 nm | | 外形尺寸：684×584×350 mm | |
| | 重量：90000 g | | 適用范圍：鐵、銅、鋁、鎳、鈷、鎂、鈦、鋅 | | 外形尺寸：684×584×350 mm | |
利特斯 CCD全譜直讀光譜分析儀 SZ-WL15A
CCD圖像傳感器可直接將光學信號轉(zhuǎn)換為模擬電流信號，電流信號經(jīng)過放大和模數(shù)轉(zhuǎn)換，實現(xiàn)圖像的獲取、存儲、傳輸、處理和復現(xiàn)。
特點：
1、體積小重量輕。
2、功耗小，工作電壓低，抗沖擊與震動，性能穩(wěn)定，壽命長。
3、靈敏度高，噪聲低，動態(tài)范圍大。
4、響應(yīng)速度快，有自掃描功能，圖像畸變小，無殘像。
5、應(yīng)用超大規(guī)模集成電路工藝技術(shù)生產(chǎn)，像素集成度高，尺寸精確，商品化生產(chǎn)成本低。
應(yīng)用領(lǐng)域有軍事領(lǐng)域、攝像領(lǐng)域、生產(chǎn)自動化、光學信息處理等領(lǐng)域。
SZ-WL15A 桌面上的金屬分析儀 體積小巧，且具有超高的性價比。
我們的光譜儀旨在完成快速而可靠的樣品檢測。新一代leetes先進的光譜分析技術(shù)，30年光譜儀研發(fā)制造經(jīng)驗、技術(shù)創(chuàng)新和售后服務(wù)，為每一臺光譜儀用戶提供可靠的材料分析方案。
WL15A 提供快速、穩(wěn)定和精確的分析以實現(xiàn)完美樣品檢測要求。 它是一臺功能強大且*可靠的光譜儀，光學系統(tǒng)采用CCD檢測器，在部分領(lǐng)域可以媲美經(jīng)典光電倍增管式的光譜儀。
分析的材料類型 全面的分析程序可供選擇，適用于所有金屬及其合金，
包括：鑄鐵、鐵、鋼鋁、銅、鎂、鎳、鉛、錫、鈷、鈦
光學系統(tǒng) :
全譜平場光學系統(tǒng)，波長可選范圍：130-1100nm
檢測器 :
(紫外區(qū))采用高性能濱松（HAMAMATSU）背照式CCD檢測器
開放式激發(fā)臺，適用于分析不同幾何形狀的大樣品，采用雙氣路氬氣沖洗電極模式大大節(jié)約氬氣，熱交換設(shè)計，無需水冷，易于清理維護；
火花激發(fā)系統(tǒng) :
激發(fā)誤差 是直讀光譜分析中主要誤差，對火花激發(fā)系統(tǒng)中光源的穩(wěn)定性要求異常嚴格。WL15A采用全頻數(shù)字雙脈沖激發(fā)光源，可變頻（100-1000Hz）激發(fā)技術(shù)。
具有以下特點：
激發(fā)電路中無電阻部件，不發(fā)熱，提高熱穩(wěn)定性低壓火花放電，增加系統(tǒng)可靠性減少維護保養(yǎng)，僅需清洗激發(fā)電極
1.分析準確度高，時間快
2.體積小、重量輕
3.高度集成化、高可靠性
4.數(shù)據(jù)分析穩(wěn)定、快速
5.全譜檢測，通道不受限
6.操作簡單
7.分析模式
核心原理圖：
CCD的優(yōu)勢 ：
windows系統(tǒng)下全中文操作界面，有多種語言模式一鍵激發(fā)
即可獲取數(shù)據(jù)內(nèi)置自我診斷系統(tǒng)
自動處理結(jié)果，10-30S 完成樣品分析
預(yù)裝金屬牌號，能快速鑒定�？勺杂蛇x擇分析模式、
配置分析曲線，也可根據(jù)應(yīng)用需求優(yōu)化參數(shù)。
- 連接激發(fā)光源
- 狹縫
- 濾鏡
- 準直鏡
- 光柵
- 聚焦鏡
- 帶濾光片的檢測器
- 背照式CCD檢測器
應(yīng)用領(lǐng)域
冶金、鑄造、機械加工、爐前化驗、科研、商檢、汽車、石化、造船、電力、航空航天、核電、兵器
檢測范圍
鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基 等。
利特斯 CCD全譜直讀光譜分析儀 SZ-WL15A
直讀光譜儀技術(shù)方案 儀器技術(shù)參數(shù)表格
| 項目 |
參數(shù)描述 |
| 檢測應(yīng)用 |
金屬基體合金的成分測量 |
| 光學系統(tǒng) |
全譜光學系統(tǒng) |
| 波長范圍 |
130～1100nm |
| 光源類型 |
全頻數(shù)字雙脈沖激發(fā)光源，可變頻（100-1000Hz）激發(fā)技術(shù) |
| 檢測器 |
CCD檢測器，(紫外區(qū))采用高性能濱松（HAMAMATSU）背照式CCD檢測器 |
| 電極 |
采用雙氣路氬氣沖洗電極模式 |
| 數(shù)據(jù)采集讀出系統(tǒng) |
高速16位ADC模數(shù)轉(zhuǎn)換，DSP數(shù)字信號控制器，工業(yè)USB數(shù)據(jù)采集（100KHz/s），單火花脈沖數(shù)據(jù)采集，可用于酸溶鋁和酸不溶鋁檢測。 |
| 分析軟件 |
全中文windows系統(tǒng)下運行分析軟件，設(shè)置分析參數(shù)，激發(fā)、沖洗、予燃爆光時間選擇，自動完成 |
| 工作電源 |
（220±20）V AC，（50±1）Hz，保護性接地的單相電源 |
| 工作溫度 |
(10～30)℃ |
| 存儲溫度 |
(0～45)℃ |
| 工作濕度 |
20％～80％ |
| 氬氣純度要求 |
99.999% |
| 氬氣進口壓力 |
0.5Mpa |
| 氬氣流量 |
激發(fā)流量約（3-6）L/min，維持流量約（0-0.5）L/min |
| 激發(fā)*大功率 |
500VA |
| 激發(fā)臺孔徑 |
12mm |
| 樣品臺 |
火花臺尺寸為120x120mm ，放電室特殊設(shè)計，雙脈沖火花放電，十分便于激發(fā)和省氬氣，激發(fā)電極為鎢電極或銀電極。 |
| 尺寸 |
外形尺寸:684×584×350mm |
| 重量 |
45kg |
標配供貨范圍
| 內(nèi)容描述 |
數(shù)量 |
| SZ-WL15A 全譜直讀光譜儀主機 |
1臺 |
| 分析基體 |
1個 |
| 工作曲線 |
2套 |
| 數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)（光譜儀內(nèi)置） |
1套 |
| 分析及校準軟件（U盤） |
1套 |
| 計算機（聯(lián)想） |
1套 |
| 打印機（HP） |
1臺 |
| 高低標 |
2個 |
| 減壓閥 |
1套 |
| 電極刷 |
1個 |
| 過濾器 |
1個 |
| 用戶手冊（儀器使用說明書） |
1份 |
CCD 原理及發(fā)展應(yīng)用
CCD 是指電荷耦合器件，是一種用電荷量表示信號大小，用耦合方式傳輸信號的探測元件，具有自掃描、感受波譜范圍寬、畸變小、體積小、重量輕、系統(tǒng)噪聲低、功耗小、壽命長、可靠性高等—系列優(yōu)點，并可做成集成度非常高的組合件。
電荷耦合器件(CCD)是20世紀70年代初發(fā)展起來的一種新型半導體器件。
CCD是于1969年由美國貝爾實驗室（Bell Labs）的維拉·波義耳(Willard S. Boyle）和喬治·史密斯（GeorgeE. Smith）所發(fā)明的。
當時貝爾實驗室正在發(fā)展影像電話和半導體氣泡式內(nèi)存。將這兩種新技術(shù)結(jié)合起來后，波義耳和史密斯得出一種裝置，他們命名為“電荷‘氣泡’元件”（Charge "Bubble" Devices）。
這種裝置的特性就是它能沿著一片半導體的表面?zhèn)鬟f電荷，便嘗試用來做為記憶裝置，當時只能從暫存器用“注入”電荷的方式輸入記憶。但隨即發(fā)現(xiàn)光電效應(yīng)能使此種元件表面產(chǎn)生電荷，而組成數(shù)位影像�！�
到了70年代，貝爾實驗室的研究員已經(jīng)能用簡單的線性裝置捕捉影像，CCD就此誕生。有幾家公司接續(xù)此一發(fā)明，著手進行進一步的研究，包括仙童半導體（Fairchild Semiconductor）、美國無線電公司（RCA）和德州儀器（Texas Instruments）。
其中快捷半導體的產(chǎn)品領(lǐng)先上市，于1974年發(fā)表500單元的線性裝置和100x100像素的平面裝置。
CCD圖像傳感器可直接將光學信號轉(zhuǎn)換為模擬電流信號，電流信號經(jīng)過放大和模數(shù)轉(zhuǎn)換，實現(xiàn)圖像的獲取、存儲、傳輸、處理和復現(xiàn)。
CCD的優(yōu)勢 ：
