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奧林巴斯相控陣探傷儀OmniScan X3 64
詳細(xì)信息品牌：奧林巴斯 型號：64 加工定制：否 類型：超聲波 測量范圍：30 ns ～ 1,000 ns 分辨率：0.001 尺寸：335 mm × 221 mm × 151 mm 重量：5.7 kg 分辨率：0.001 
奧林巴斯相控陣探傷儀OmniScan X3 64
威力強(qiáng)大，小巧便攜
OmniScan X3 64相控陣探傷儀沿用了已經(jīng)現(xiàn)場驗(yàn)證、堅(jiān)固耐用、輕盈便攜的OmniScan X3外殼，其強(qiáng)大的聚焦功能得到了更大的晶片孔徑容量的支持，可使您充分利用64晶片相控陣探頭，進(jìn)行128晶片孔徑的TFM檢測。 您可以利用這款儀器的增強(qiáng)性能，迎接檢測較厚、衰減性較強(qiáng)材料的挑戰(zhàn)，并提升您的潛力，為更廣泛的應(yīng)用開發(fā)新程序。
信心滿滿，昭然可見
OmniScan X3相控陣探傷儀是一個(gè)完備的相控陣工具箱。 其性能強(qiáng)大的工具，包括全聚焦方式（TFM）成像和高級可視化能力，在其高質(zhì)量成像功能的支持下，可使您更加充滿信心地完成檢測。
提前確認(rèn)TFM（全聚焦方式）聲波覆蓋范圍
聲學(xué)影響圖（AIM）工具可以基于您的TFM（全聚焦方式）模式、探頭、設(shè)置和模擬反射體，即時(shí)提供靈敏度的可視化模型。
聲學(xué)影響圖（AIM）工具消除了掃查計(jì)劃創(chuàng)建過程中的猜測因素，因?yàn)槠聊簧蠒@示某個(gè)聲波組（TFM模式）的效果圖，使您看到靈敏度消失的位置，并對掃查計(jì)劃進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)整。
用PCI查看您錯(cuò)過了什么
我們創(chuàng)新性的無振幅實(shí)時(shí)相位相干成像(PCI)提高了對小缺陷的靈敏度和在噪聲材料中的穿透力，同時(shí)簡化了設(shè)置和尺寸調(diào)整。從MXU 5.10開始，可用于OmniScan X3 64探傷儀。 -
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